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    Resonante Röntgenreflektometrie – ein neues Analysenverfahren für Nanostrukturen

    ANALYTIK NEWS - NachrichtenBy ANALYTIK NEWS - Nachrichten26. August 2014Keine Kommentare1 Min Read
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    Zwei elektrische Isolatoren aneinander bringen und dadurch einen elektrischen Supraleiter erzeugen: Wer solche Phänomene in Nanostrukturen analysieren will, stößt schnell an messtechnische Grenzen - es sei denn, er benutzt eine neue Methode, die Würzburger Physiker mitentwickelt haben. Moderne elekt...
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