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    Zerstörungsfreie Materialanalyse in 3-D mittels Röntgenstrahlen

    ANALYTIK NEWS - NachrichtenBy ANALYTIK NEWS - Nachrichten21. März 2017Updated:21. März 2017Keine Kommentare1 Min Read
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    Forschende des Paul Scherrer Instituts PSI haben detaillierte 3-D-Röntgenbilder eines handelsüblichen Computerchips erstellt. Dabei wurden erstmals zerstörungsfrei und ohne Verzeichnungen oder Verzerrungen die Verläufe der innen liegenden, nur 45 Nanometer breiten Stromleitungen und die 34 Nanome...
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