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    Startseite » Elektronenmikroskop ermöglicht Beobachtung von Defektbewegung in Graphen

    Elektronenmikroskop ermöglicht Beobachtung von Defektbewegung in Graphen

    ANALYTIK NEWS - NachrichtenBy ANALYTIK NEWS - Nachrichten10. Juni 2014Keine Kommentare1 Min Read
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    Unvollkommenheiten und Defekte in der atomaren Anordnung eines Kristalls sind für viele Materialeigenschaften verantwortlich. Die Wanderung (Diffusion) dieser Defekte bewirkt zudem Veränderungen in der Mikrostruktur von Festkörpern. Jedoch ist die Abbildung von nicht-periodischen atomaren Anordnunge...
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