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    Startseite » High-Speed-Mikroskopie zur Qualitätskontrolle

    High-Speed-Mikroskopie zur Qualitätskontrolle

    ANALYTIK NEWS - NachrichtenBy ANALYTIK NEWS - Nachrichten13. November 2015Updated:13. November 2015Keine Kommentare1 Min Read
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    Großflächige Bauteile mit winzigen Details müssen zur Qualitätskontrolle oft unter dem Mikroskop untersucht werden. In der Halbleiter- und Elektronikindustrie ist der Bedarf an mikroskopischen Prüfverfahren aufgrund des hohen Miniaturisierungsgrads besonders groß. Der Aufnahmeprozess bei der mikrosk...


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