Reflektionszonenplatten aus dem HZB ermöglichen effizient den präzisen Nachweis von leichten Elementen in Materialproben unter dem Rasterelektronenmikroskop, indem sie hohe Auflösung im Energiebereich von 50 - 1120 eV bieten. Die Rasterelektronenmikroskopie wird nicht nur genutzt, um Probenoberfläch...
